ROHS 無鹵檢測(cè)SPCC-606B
產(chǎn)品介紹:
1.采用美國Amptek SDD高靈敏度探測(cè)器,分辨率高,探測(cè)范圍廣,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。
2.配置先進(jìn)的DPP數(shù)字多道信號(hào)集成處理器,比普通模擬多道信號(hào)處理器性能佳,尤其在高計(jì)數(shù)率時(shí)分辨率高(如Hg和CI等),高達(dá)80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時(shí)間變短,尤其在測(cè)量重復(fù)性和長期穩(wěn)定性上有提高。
3.內(nèi)置高清攝像系統(tǒng),清晰觀察樣品,準(zhǔn)確定位樣品測(cè)試區(qū)域。
4.配套FP測(cè)量軟件,集成多種譜圖處理算法和基體校正算法,有效降低儀器測(cè)量中的各種干擾譜峰,使低含量和痕量元素的檢測(cè)結(jié)果趨近準(zhǔn)確,更加接近真值水平。
技術(shù)規(guī)格
分析原理 能量色散X射線熒光分析法
分析元素 鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、氯(Cl)、溴(Br),其中氯(Cl)僅作為定性測(cè)定分析。
工作條件 工作溫度:10-30℃
相對(duì)濕度:≤70%
電 源:AC 220 V±10 %、50/60 Hz
測(cè)定條件:大氣環(huán)境
技術(shù)指標(biāo) 檢出下限:Cd/Cr/Hg/Br/Pb≦2 ppm
儀器均質(zhì)材料測(cè)試可靠性要求:20ppm以下50%以內(nèi),20ppm以上30%以內(nèi)
測(cè)試樣品時(shí)間:30-900秒可調(diào)
BXR 606B 1ppm-99.99%
樣品類型:塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
X射線管:靶材/Mo 管電壓/5~45kV 管電流/最大1~1000 μA
照射直徑:2、5、8mm
濾光片:新型濾光片自動(dòng)選擇
樣品觀察:USB 2.0界面 30倍130萬像素彩色CCD攝像機(jī)
定量分析:理論Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法)
功率:0.35kW
重量:50Kg
外形尺寸:550(W)×450(D)×450(H)mm
BXR 606B 美國Amptek SDD高靈敏度探測(cè)器
鎢(W)靶特殊防輻射處理X光光管
美國Spellman高壓電源(RSD<0.25%)
全封閉鉛板雙樣品蓋
高精密CCD攝像機(jī)(130萬像素)
Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法)定量軟件
測(cè)試用樣品杯1個(gè),測(cè)試用塑料薄膜數(shù)張
歐盟EC681標(biāo)樣一片、銀校正標(biāo)樣一片
應(yīng)用領(lǐng)域
電子電器、五金沖壓、包裝塑料等各類產(chǎn)品的ROHS、無鹵檢測(cè)。
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